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理学 ZSX Primus 波长色散型XRF 石油焦中元素含量分析
区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigaku ZSX Primus以各种各样的样品 - 以最低标准提供从铍(Be)到铀(U
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理学 ZSX Primus 波长色散型XRF Be - U元素分析
测量。软件操作简便,即使是操作新手也可进行高水平的分析。 分析范围: Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX
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理学 ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus沿袭了及时提供精确结果的传统,无与伦比的可靠性,灵活性和简便性适合当今实验室的各种挑战。随着理学的经验不断超越用户的期望,ZSX
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理学 ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus IV 采用上照射设计,不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。 具有双真空系统,自动真空控制,mapping/微区分析
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理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF Be-U元素分析
分析范围: Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigaku ZSX Primus以各种各样的
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理学 ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方,减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。可在慢速和快速
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理学 ZSX Primus 波长色散型XRF 微量样品分析
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理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF 极地光谱元素检测
仪器简介: ZSX Primus Ⅳ是理学公司全新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗
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理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF 微量样品分析分析
了使用时间。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有卓越的性能和分析最复杂样品的灵活性,采用30微米的管子,这是业界最薄的终端窗口管,可提供出色的轻元素(低Z)检测限。映射和多点XRF分析结合
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理学 ZSX Primus 多道型波长色散型X射线荧光光谱仪
分析范围: Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigaku ZSX Primus以各种各样的
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